产品中心
PRODUCTS CNTER
相关文章
LEI Model2017B，通过汞探针接触方法，对各类半导体材料的载流子浓度分布进行测试，特别适合GaN.SiC等化合物材料。
更新时间：2025-01-23
产品型号：LEI Model2017B
浏览量：337
汞CV测试系统，用于对外延或前道工艺中的non-pattemed晶片做汞C-V测试; MCV-530L可测最大200mm的样品。
更新时间：2025-01-23产品型号：浏览量：458
CV-1500，用于测试界面和介电层的科研平台，基于SDI Corona-Kelvin技术，可以进行非接触C-V/I-V测试。
更新时间：2025-01-23产品型号：浏览量：415公司邮箱： qgao@buybm.com
服务热线： 021-61052039
公司地址： 上海市浦东新区叠桥路456弄创研智造C7区301室
Copyright © 2025 上海7163银河主站线路检测科学仪器有限公司 AlL Rights Reserved
备案号：沪ICP备35946226号-2
技术支持：化工仪器网 管理登录 sitemap.xml
当前位置：
产品分类